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超聲波測厚儀   無損檢測 > 超聲波測厚儀 > 多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
     
 
測厚儀ZX3/ZX5/ZX5-DL
 
測厚儀ZX6/ZX6-DL
 
B-掃描測厚儀MX-1DL
 
A/B掃描測厚儀MX2-DL
 
多功能測厚儀CMX1/CMX1-DL
 
多功能測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
 
測厚儀PosiTectorUTG
 
高精密測厚儀PZX1/PZX1-DL
高精密測厚儀PMX2-DL/PMX3-DL
高精密測厚儀CL Go+
高穿透超聲波測厚儀PMX4-DL
水下測厚儀UMX-2
測厚儀用常溫/高溫耦合劑


超聲波測厚儀
超聲波探傷儀
涂層測厚儀
電火花檢測儀
附著力測試儀



 
  多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
資料下載-多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置,以獲得更好的性價比。
CMX2-DL為灰度顯示屏,CMX3-DL彩屏顯示。

  儀器特點
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100MHz FPGA時序電路設計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調節增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB
自動時間相關增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數據接口
內置4GB SD存儲卡
多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL

  技術參數
  測量
  脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.88~18542m/s
單位:公制或英制
校準:一點和兩點校準方式
  顯示
  CMX2-DL顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素?梢晠^62x45.7mm,EL背光;
CMX3-DL顯示屏:1/4英寸AMOLED彩色顯示屏,320x240象素
A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場),RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式:基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數
大數字方式:標準厚度顯示,數字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
厚度條形掃描:速度33Hz,在B-掃描和大數字顯示中可見
穩定度指示:表示測量值的穩定性
功能狀態指示:顯示當前激活的功能
  超聲波參數
  測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖:可調方波脈沖發生器
接收:根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調
計時:單次8位100MHz超低功耗數字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復頻率:250Hz
  探頭
  頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口,1.2米探頭線
  存儲
  容量:內置4GB SD卡
數據結構:網格(字母數字)和順序(自動識別)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數據輸出:通過USB Type-C連接的計算機
  功能
  設置:64個用戶定義設置,用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選:內置雙路誤差校正,提高線性度
報警模式:上下限視聽報警
快速掃描模式:每秒250個讀數,當探頭離開時顯示最小值
  其他
  鍵盤:12個觸摸鍵
電源:標配為三節5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-10~60℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準
 
  雙晶探頭
   型號    頻率    探頭晶片直徑    探頭防磨面直徑    測量范圍    說明
   T-102-2900    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm    標準CT探頭(可測涂層厚度)
   T-101-2900    5.0MHz    4.76mm    6.35mm    1.0~50mm    小管徑CT探頭
   T-102-3300    7.5MHz    6.35mm    9.53mm    0.63~152mm    超薄探頭
   T-104-2900    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm    超厚CT探頭
   T-042-2000    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm    標準高溫探頭,最高340℃
   T-044-2000    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm    超厚高溫探頭,最高340℃
   T-212-2001    5.0MHz    6.35mm    9.53mm    1.0~152mm    超高溫探頭,最高480℃
   T-214-2001    5.0MHz    12.7mm    15.88mm    1.27~508mm    超厚超高溫探頭,最高480℃
注:測試高溫表面時需用高溫耦合劑

  單晶探頭
   探頭型號    頻率    描述    說明
   T-402-5507    15MHz    晶片Ø6.35mm    標準延遲塊探頭
   T-402-6507    20MHz    晶片Ø6.35mm    延遲塊探頭
   T-4903-2875    5MHz    晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm    接觸式探頭
   T-4903-4875    10MHz    晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm    接觸式探頭
   T-4023-2855    5MHz    晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm    接觸式探頭
   T-4023-4855    10MHz    晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm    接觸式探頭
   T-481-4507    10MHz    延遲塊前端Ø1.59mm    筆式探頭