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	涂層測厚儀			涂層檢測 > 涂層測厚儀 > 涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
涂層測厚儀PosiTector6000   涂層測厚儀PosiTestDFT   涂層測厚儀SmartLink   筆式涂層測厚儀PosiPen   超聲涂層測厚儀PosiTector200   非接觸粉末測厚儀PosiTestPC   未固化粉末測厚儀PowderComb   破壞法涂層測厚儀PosiTestPG   濕膜測厚儀WFG   涂層測厚儀MikroTest   涂層測厚儀MiniTest600   涂層測厚儀MiniTest2500/4500 超聲波測厚儀 超聲波探傷儀 涂層測厚儀 電火花檢測儀 附著力測試儀			涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 已停產(chǎn) 德國Eleektrophysik公司MiniTest1100/2100/3100/4100系列涂鍍層測厚儀已升級為MiniTest2500/4500。   儀器特點 MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； - 所有型號均可配所有探頭 - 高精確度和重復(fù)性 - 儲存讀數(shù)文件 ，可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機 - 一點和兩點校準(zhǔn)   功能  型號 1100 2100 3100 4100  存儲量  應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99  每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99  可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) - 1 500 500  數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000  統(tǒng)計功能  讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √  讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √  組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √  組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √  存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - - √  分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 - - √ √  顯示并打印測量值、打印的日期和時間 - √ √ √  其他  透過涂層進行校準(zhǔn)(CTC) - √ √ √  在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) √ √ √ √  利用計算機進行基礎(chǔ)校準(zhǔn) √ √ √ √  補償一個常數(shù)(Offset) - - √ √  外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 - √ √ √  保護并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 √ √ √ √  更換電池是存儲數(shù)值 √ √ √ √  設(shè)置極限值 - - √ √  公英制轉(zhuǎn)換 √ √ √ √  連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 - - √ √  連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √  浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 √ √ √ √  組內(nèi)單值延遲顯示 - √ √ √  連續(xù)測量模式中顯示最小值 √ √ √ √   探頭參數(shù) 探頭 量程 低端 分辨率 誤差 最小曲率 半徑(凸/凹) 最小測量 區(qū)域直徑 最小基 體厚度 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 0.75/5mm 3mm 0.1mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm F20 0-20mm 10μm ±(1%+20μm) 10/30mm 40mm 2mm F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/5mm 2mm 50μm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F：0.5mm/N：50μm FN1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm F：0.5mm/N：50μm F2HT 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm 注： 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能 F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。   FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度 F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭，尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度非磁性測頭，尤其適合于在管內(nèi)壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板